全反射X射線熒光(TXRF)特點和其他技術對比

基於X射線熒光能譜法， 全反射X射線熒光(TXRF)采用毫弧度的臨界角，由於采用此種近於切線方向的入射角，原級X射線光束幾乎全部被反射，照射在樣品表麵後，可以很大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發生，同時減小了載體的背景和噪聲。

這種技術特點，使得全反射X射線熒光(TXRF)與其他傳統元素分析技術相比，有著諸多優勢，見下表：

意大利GNR公司是一家老牌的歐洲草莓视频APPIOS生產商，其X射線產品線誕生於1966年，經過半個多世紀的開發和研究，該產品線已經擁有眾多型號滿足多個行業的分析需求。

X射線衍射儀（XRD）可測試粉末、薄膜等樣品的晶體結構等指標，多應用於分子結構分析及金屬相變研究；而全反射X熒光草莓视频APPIOS（TXRF）的檢測限已達到皮克級別，其非破壞性分析特點應用在痕量元素分析中，涉及環境、醫藥、半導體、核工業、石油化工等行業；為迎合工業市場需求而設計製造的專用殘餘應力草莓视频在线下载观看、殘餘奧氏體草莓视频在线下载观看，近年來被廣泛應用在材料檢測領域，其操作的便捷性頗受行業青睞。